0 引言
      光时域反射仪（OTDR）是一种常见的光纤故障定位设备。OTDR利用瑞利散射原理检测光纤衰耗点，瑞利散射光在光纤中经过掺饵光纤放大器（EDFA）后会受放大自发辐射（ASE）噪声影响产生畸变，导致OTDR无法形成指数变化的曲线[1]。喇曼放大器的宽带放大特性能够让瑞利散射光穿透，但该放大器的高增益特点又引入了新的应用问题：当光纤端面不够干净，即存在衰耗时，高功率输出容易烧毁端面。因此，喇曼放大器在实际工程使用中需要和OTDR仪表一同使用，保证开通的安全性[2]。
　　 OTDR曲线中的衰耗点一般由熔点及光接头产生，当喇曼放大器接入业务信号中进行光放大时，OTDR需要准确分析出所有的光衰耗点及对应衰耗值，以供系统分析是否满足开泵条件。因此，一方面需要在受业务信号干扰产生噪声的OTDR曲线中分析出衰耗点区间；另一方面需要在衰耗点区间中精确分析出衰耗事件位置。试验表明：即使是大动态范围的OTDR测试仪表在这种情况下测试分析的准确率也只有80%[3]。因此，本文采用算法优化的思路进一步研究OTDR曲线中微小衰耗点分析方法。

3 结束语
      本文针对喇曼放大器使用中端面衰耗点难以识别的问题，提出了喇曼复用OTDR的系统概念，并将图像处理中二维像素点形状识别采用的多种算法，如霍夫变换、质心识别等运用到OTDR的二维点序-信号幅度曲线中，精确定位OTDR曲线中微小的非反射事件。本方法将测试分析的准确率由80%提升至95%以上，有效解决了微小衰耗点事件的误判问题，为喇曼复用OTDR系统的工程开通提供了准确的分析手段。