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段小华,熊涛. 单模光纤抗压力测试与低温性能的相关性研究[J]. 光通信技术,2023,47(3):74-78.

单模光纤抗压力测试与低温性能的相关性研究

段小华,熊 涛

(烽火藤仓光纤科技有限公司,武汉 430070)

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摘要:光纤在低温环境下的使用越来越广泛,更加优异的低温用涂料和光纤低温性能的研究探索也逐步深入。采用3种不同涂料的G652单模光纤进行光纤抗压力测试,对抗压力测试后的光纤表面形貌进行分析,同时对低温试验后光纤的涂层抗压力与附加衰减性能进行测试表征。实验结果表明:光纤自身抗压力值越大,其低温附加衰减值越小,耐低温性能就越佳,且低温测试前后的光纤抗压力值差异较小。

关键词:不同涂料;抗压力测试;低温性能;附加衰减

中图分类号:TN818  文献标志码:文章编号:1002-5561(2023)03-0074-05

DOI:10.13921/j.cnki.issn1002-5561.2023.03.013

0 引言

光纤作为光通信传输的唯一信息载体,具有衰减小、带宽高、传输稳定等优势,被广泛用于长距离的信息传输[1]。光纤由芯层、包层和涂层三部分组成。其中,芯层与包层是决定光纤传输性能的关键结构,其主要成分为SiO2;涂层作为裸光纤的缓冲层与保护层,对于保证光纤的使用寿命和使用性能具有重要的作用。目前,应用较为广泛的光纤涂料主要包括丙烯酸酯类、甲基丙烯酸酯类、乙烯醚类、不饱和聚酯类等[2]。

常用光纤的工作温度一般为-40~70 ℃,当光纤的使用温度超过此范围时,涂料的性质将发生变化,进而引起光纤微弯、损耗增大,影响通信线路的传输性能[3]。近年来,运营商的信息网络建设逐步延伸至极寒、极热或者昼夜温差极大等环境恶劣的地区,人们对光纤在低温或高温下的附加损耗越来越关注,且逐步将其作为光纤的一项基本质量指标进行监控。本文对3种不同涂料的G.652单模光纤的抗压力测试性能、耐低温性能的联系性、光纤自身抗压力测试的规律性进行研究。

3 结束语

本文采用3种不同涂料的光纤进行抗压力测试与低温测试,光纤抗压力测试对于光纤新涂料的验证评估和光纤低温性能优异与否的前期性测试指导具有非常重要的意义。两者间的相关性主要包括以下几点:

  ①光纤低温前抗压力值越大,则光纤的低温附加衰减值越小,光纤耐低温性能越佳。

  ②光纤在低温测试前后的光纤抗压力值差异小,差异在50 g之内,无明显区别。

  ③当光纤外观与结构满足要求,光纤进行抗压力测试时,随着负载压力的增加,涂层形貌的失效形式呈现为:由低负载下的颗粒状脱落,逐步演变为最终高负载下的片状剥离脱落。