引用本文:

宁四平:小弯曲半径下光纤宏弯损耗测试的拟合方法研究[J]. 光通信技术,2019,43(4):23-28.

小弯曲半径下光纤宏弯损耗测试的拟合方法研究

宁四平

(特恩驰(南京)光纤有限公司,南京 210006)

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摘要:光纤在小弯曲半径下,为提高测试准确性,新版IEC 60793-1-47 Ed. 4.0 b 2017推荐了以浸入高折射率溶液中测试得到的本征宏弯损耗值为参考,根据特定波长测量点的精度比较,选择最佳的拟合方法为测试方法。选择G.657.A1光纤为研究案例,通过对小弯曲半径下宏弯的多种拟合方法进行比较和研究,确定以1550nm和1625nm波长下宏弯拟合值的准确度为参考依据,作为小弯曲半径下光纤宏弯损耗最佳拟合方法选择的思路。

关键词:宏弯损耗;小弯曲半径;本征值;加权最小二乘法

中图分类号:TN818  文献标志码:文章编号:1002-5561(2019)04-0023-06

DOI:10.13921/j.cnki.issn1002-5561.2019.04.005

0 引言
      2014年,本文作者及其同事撰写的论文“用加权的最小二乘法测试单模光纤的宏弯损耗”(“Use of weighted least square fitting methods in macrobending loss tests on single-mode fibres”)在美国罗德岛普罗旺斯举行的63rd IWCS学术研讨会议上发表。该方法解决了小弯曲半径下光纤宏弯损耗图谱震荡造成测试结果不准确的问题。在推动该方法纳入IEC和GBT标准的过程中,国际和国内专家们在认可加权最小二乘法的同时,提出了其它拟合方法是如何影响测试结果的问题。本文解答了这个疑问。
      新版IEC 60793-1-47 Ed. 4.0 b 2017 Optical fibres - Part 1-47 Measurement methods and test procedures - Macrobending loss (Annex D Small bend radius)的修订是基于本文以及“用加权的最小二乘法测试单模光纤的宏弯损耗”论文的精炼。

5 结束语
      测试小弯曲半径下光纤的宏弯损耗时,为了消除“回音壁”而产生的宏弯损耗震荡现象,便于得到更可靠的宏弯测试结果,应该对测试数据进行拟合。为方便计算,本文对宏弯损耗的理论公式γ=Aeαλ,取对数后得到的线性公式进行加权最小二乘法拟合,可以实时获得精确的测试结果,非常方便生产企业实践应用。通过将光纤浸入高折射率匹配溶液中,获得的宏弯损耗测试曲线作为宏弯损耗本征值的参考,以选择适宜的拟合方法。不同厂家的不同种类光纤选用的最优拟合方法可能不一致,选择最优拟合方法时,可以以指定波长(如1550nm和1625nm)下,宏弯损耗测试精确度为评定依据。测试波长范围应不引入高阶模,范围内点数越多越好,感兴趣的读者可自行研究。