引用本文：
梁明，姜海明，刘偲嘉，等. 光功率检测电路研究进展[J]. 光通信技术，2023，48（4）：48-52.
梁 明1，姜海明1*，刘偲嘉2，甘育娇2，谢康1，袁伟超1，李明朗1，林毅华1
（1.广东工业大学 机电工程学院，广州 510006；2.广州市自来水有限公司，广州 510600）
【下载PDF全文】 【下载Word】摘要：光功率检测电路的性能好坏决定了接收信号的质量，介绍了光功率检测电路中半导体光电探测器的分类以及与光电探测器相连的几种常用的跨阻放大器，并根据跨阻放大器的性能指标对比了各自的优缺点和应用范围。最后，展望了光功率检测电路的发展前景。
关键词：光功率；光电探测器；跨阻放大器；检测电路；集成互补的金属氧化物半导体电路
中图分类号：TN929.1 文献标志码：A 文章编号：1002-5561（2023）04-0048-05
DOI:10.13921/j.cnki.issn1002-5561.2023.04.009
0引言
随着社会的发展，光纤通信[1]成为长距离传输的主要通信技术，并对许多领域发展有着重要作用。光信号接收模块中的光功率检测电路是光纤通信的重要组成部分。在光功率检测电路中，半导体光电探测器将接收到的光信号转换为光电流，跨阻放大器（TIA）再将光电流转换为相对合适的电压信号[2-3]。本文主要介绍光功率检测电路中半导体光电探测器的发展现状以及与半导体光电探测器相连的几种常用TIA优缺点，据此分析当前该领域面临的挑战与前景。
3 结束语
本文介绍了光功率检测电路中半导体光电探测器的发展现状以及常用的几种TIA的特点和性能指标（噪声、带宽、增益、功率）之间的关系，在实际应用中可以根据材料特性、电路结构、集成化程度等选择适合的光电探测器。
随着目前通信需求的增长和半导体光电技术的发展，对于高性能的光功率检测电路的需求越来越大。因此，结合更先进的CMOS工艺，研究出低噪声、低功耗和低成本的光功率电路具有重大意义。